Panametrics-NDT Epoch XT

Nowy defektoskop ultradźwiękowy Panametrics-NDT Epoch XT przeznaczony jest do pracy w ekstremalnych warunkach.

EPOCH XT posiada ochronę przed kurzem oraz wilgocią (wodoszczelny do 1 metra głębokości). Dzięki temu urządzenie może sprawnie wykrywać wady w wilgotnym oraz brudnym otoczeniu. Urządzenie pozwala na  zastosowanie różnego rodzaju  akumulatorów począwszy od litowo-jonowych, a skończywszy na klasycznych bateriach wielkości C (paluszkach).

EPOCH XT wyposażony jest w kolorowy ekran ciekłokrystaliczny z rodzielczością QVGA (60 Hz) oraz możliwością prezentacji echogramu na całym ekranie. Urządzenie posiada dwa porty USB - jeden służy do podłączenia urządzeń peryferyjnych (np. drukarki), drugi natomiast do komunikacji z programem komputerowym GageView PRO. Wbudowany datalogger służy do zapisywania potrzebnych danych.

EPOCH XT posiada wiele funkcji, jak np. regulacja kwadratowego sygnału wejściowego, wybieralny filtr wąsko i szerokopasmowy, zakres wzmocnienia 0 do 110 dB, zapisanie echogramu (ewentualnie zatrzymanie „zamrożenie“ na wyświetlaczu), możliwość ustawienia PRF, dokładność 0,01 mm podczas pomiaru grubości oraz dwie bramki z alarmami. XT oferuje ponadto różnego rodzaju oprogramowanie - DAX/TVG, DGS/AVG, AWS D1.1 oraz D1.5, API 5UE, korektę zakrzywioniej powierzchni oraz program komputerowy GageView Pro.