Strukturoskop SVP-102
Jednokanałowy strukturoskop przeznaczony do szybkiej kontroli i wykrywania nieprawidłowości metodą prądów wirowych.
Jest powszechnie stosowany tam, gdzie może wystąpić niepożądana zmiana ważnych parametrów, takich jak twardość powierzchniowa, głębokość zmętnienia lub skład chemiczny podczas procesu wytwarzania.
Do urządzenia podłączone są dwie identyczne cewki testowe, gdzie jedna służy jako porównawcza, a druga jako testowa. Firma PTS produkuje szeroką gamę cewek o różnych średnicach i kształtach zgodnie ze specyficznymi potrzebami klienta.
Funkcje urządzenia
- Metoda badania: użycie dwóch cewek - poróenawczej i testowej
- Liczba częstotliwości testowych: 8
- Częstotliowść: 20Hz - 100kHz regulowana dla każdej częstotliwości
- Metoda pomiaru: ręczne włożenie przedmiotu do cewki lub automatycznie za pomocą fotoczujników
- Pomiar czasu cyklu: ok. 500ms zgodnie z wybranymi częstotliowściami
- Kształt pola tolerancji: elipsa
- Możliowść zapisywania danych referencyjnych (lub odtwarzania podczas testów)
- Proste testowanie w trybie automatycznym lub ręcznym dla dobrej lub złej sygnalizacji za pomoca sygnału nawigacyjnego
- Licznik sztuk - dobre - złe - łącznie
- Możliwość tworzenia raportu z badań zgodnie z wymaganiami klienta
- Zasilanie 230V
